饱和PCT老化试验箱
产品分类: 温湿度试验系列
饱和PCT老化试验箱称PCT高压加速老化试验机,主要测试产品封装之抗湿气能力,如果封装不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
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饱和PCT老化试验箱称PCT高压加速老化试验机,主要测试产品封装之抗湿气能力,如果封装不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
试验标准及方法:
MS IEC 60068-2-66-2008 环境试验 第2-66部分-试验方法 试验Cx-稳态湿热(不饱和加压蒸汽)
技术参数:
PCT高压加速老化试验箱(又名PCT老化试验箱)是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,主要是模拟气候环境测试产品在不同温度、湿度及压力下密封性、气密性的试验设备。其广泛应用于电子器件、汽车零配件、塑胶、线路板、IC、LCD、LED、磁铁等行业。
PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
依据试验湿度饱和度可划分为:饱和高压加速老化试验箱及非饱和高压加速老化试验箱
PCT高压加速老化试验箱应用领域:
航空航天、国防军工、汽车机电、信息通讯、能源材料、行业定制
采购:饱和PCT老化试验箱
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